產(chǎn)品分類
products
products
-
- 電池內(nèi)阻測(cè)試儀
-
- 中國(guó)臺(tái)灣固緯GWinstek
-
- 同惠電子TONGHUI
-
- 微歐姆計(jì)電阻計(jì)
-
- 直流電源供應(yīng)器
-
- 頻率計(jì)邏輯筆
-
- 香港锝捷DTECHK
-
- 自動(dòng)失真度測(cè)試儀
-
- 美國(guó)泰克Tektronix
-
- 日本德士TEXIO
-
- 存儲(chǔ)記錄儀
-
- 交直流功率計(jì)
-
- 示波器探頭
-
- 信號(hào)功率放大器
-
- 美國(guó)吉時(shí)利Keithley
-
- 交流電源供應(yīng)器
-
- 交直流兩用電源
-
- 交直流電子負(fù)載
-
- 耐壓測(cè)試儀,安規(guī)測(cè)試儀
-
- 泄漏電流測(cè)試儀
-
- LCR電橋測(cè)試儀
-
- 毫伏表 納伏表
-
- 電能質(zhì)量分析儀
-
- 微電流計(jì)高阻計(jì)
-
- 手持萬(wàn)用表鉗表
-
- 臺(tái)式數(shù)字萬(wàn)用表
-
- 手持示波表
-
- 邏輯分析儀
-
- 吉時(shí)利
-
- 信號(hào)發(fā)生器
-
- 頻譜分析儀
-
- 場(chǎng)強(qiáng)測(cè)試儀
-
- 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀
-
- 電磁兼容EMI測(cè)試
-
- RFID測(cè)試儀
-
- 集成電路測(cè)試儀
-
- 其他檢測(cè)儀器
-
- 頻率特性測(cè)試儀
-
- 音視頻分析儀
-
- 晶體管特性圖示儀
-
- 半導(dǎo)體器件測(cè)試儀
-
- 電路板故障檢測(cè)儀
-
- 過(guò)程校準(zhǔn)器
-
- 菲力爾Flir
-
- 思儀Ceyear
紅外熱像儀的基本原理和使用步驟
點(diǎn)擊次數(shù):1791 更新時(shí)間:2020-06-11
紅外熱像儀是利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上,從而獲得紅外熱像圖,這種熱像圖與物體表面的熱分布場(chǎng)相對(duì)應(yīng)。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測(cè)物體的不同溫度。
紅外熱像儀的使用包括一下幾大步:
1、調(diào)整焦距
2、選擇正確的測(cè)溫范圍
3、了解大測(cè)量距離
4、僅僅要求生成清晰紅外熱圖像,還是同時(shí)要求精確測(cè)溫?
5、工作背景單一
6、保證測(cè)量過(guò)程中紅外熱像儀平穩(wěn)