集成電路測試儀
產(chǎn)品型號: ICT33C
所屬分類:集成電路測試儀
產(chǎn)品時間:2024-05-07
簡要描述:◆器件好壞判別:當不知被測器件的好壞時,儀器可判斷其好壞。◆器件型號判別:當不知被測器件型號時,儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號。◆器件老化測試:當懷疑被測器件的穩(wěn)定性時,儀器可對其進行連續(xù)老化測試。◆器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能*,引腳排列*的器件型號。
詳細說明:
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產(chǎn)品型號: ICT33C
所屬分類:集成電路測試儀
產(chǎn)品時間:2024-05-07
簡要描述:◆器件好壞判別:當不知被測器件的好壞時,儀器可判斷其好壞。◆器件型號判別:當不知被測器件型號時,儀器可依據(jù)其邏輯功能來判斷 其型號。◆器件老化測試:當懷疑被測器件的穩(wěn)定性時,儀器可對其進行連續(xù)老化測試。◆器件代換查詢:儀器可顯示有無邏輯功能*,引腳排列*的器件型號。
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