近場(chǎng)探頭
產(chǎn)品型號(hào): EM5030
所屬分類(lèi):固緯近場(chǎng)探頭
產(chǎn)品時(shí)間:2024-05-08
簡(jiǎn)要描述:EM5030近場(chǎng)探頭廣泛應(yīng)用于檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;機(jī)箱、線(xiàn)纜、PCB模塊等磁場(chǎng)泄露情況;甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線(xiàn),從而判斷干擾產(chǎn)生的原因,提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平,縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。
EM5030近場(chǎng)探頭主要用于電子產(chǎn)品的電磁場(chǎng)測(cè)量,實(shí)現(xiàn)干擾源快速位,多種形狀的探頭,寬頻率范圍,可以完成多種的電磁場(chǎng)測(cè)試任務(wù)。配套使用的放大器,增益約20dB,可提高系統(tǒng)測(cè)試靈敏度!廣泛應(yīng)用于檢測(cè)器件或者是表面的磁場(chǎng)方向及強(qiáng)度;機(jī)箱、線(xiàn)纜、PCB模塊等磁場(chǎng)泄露情況;甚至可以精確到IC引腳以及具體的走線(xiàn),從而判斷干擾產(chǎn)生的原因,提高產(chǎn)品設(shè)計(jì)水平,縮短產(chǎn)品開(kāi)發(fā)周期。
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